Sonda visoke rezolucije sa nizom elemenata za impulsne vrtložne struje (PECA)
Sonda visoke rezolucije sa nizom kalemova za impulsne vrtložne struje, namenjena proceni preostale debljine zida kroz korozione naslage i mehure, bez pripreme površine.

Pregled proizvoda
Sonda PECA-HR namenjena je proceni preostale debljine zida ispod korozionih krasti i mehurova koji se formiraju na površini. Njeno namensko rešenje za ispitivanje korozionih krasti kombinuje senzor visoke rezolucije, dodatak za skeniranje i algoritam za obradu, što omogućava procenu dok je oprema u radu, bez uklanjanja slojeva korozije ili pripreme površine.
Niz senzora sa dvostrukim kalemovima omogućava prostornu triangulaciju primenom tehnologije impulsnih vrtložnih struja. Prikupljanje podataka visoke rezolucije i obrada u realnom vremenu u namenskom režimu za korozione naslage daju C-scan podatke, dok polukruta podloga za korozione naslage održava konstantno odstojanje od površine tokom prikupljanja podataka. Otkrivanje grešaka zavisi od rada unutar podržanih opsega debljine zida i odstojanja od površine.
Operateri mogu da koriste prikupljanje podataka po mreži ili dinamičko skeniranje sa enkoderom, uz pokrivenost od 75 mm (3 in) po prolazu. Na stranici se navodi da se tipične naslage korozije mogu ispitati za manje od jednog minuta. Rešenje podržava debljine metala od 3–19 mm i odmak sonde od površine od 0–50 mm, omogućavajući procenu preostale debljine zida bez zračenja.
Ključne mogućnosti
Niz sa dva senzora
Tri dvostruka senzora obezbeđuju šest kanala i podržavaju prostornu triangulaciju.
Prikupljanje podataka visoke rezolucije
Specijalizovana konstrukcija senzora sa dva kalema omogućava prikupljanje podataka visoke rezolucije pomoću impulsnih vrtložnih struja.
Pokrivenost u jednom prolazu
Niz pokriva 75 mm (3 in) u jednom prolazu.
Dva režima akvizicije
Prikupljanje podataka po mreži i dinamičko skeniranje sa enkoderom prilagođavaju se različitim postupcima ispitivanja.
Namenska obrada podataka za korozione naslage
Napredna obrada u realnom vremenu i namenski režim za korozione naslage omogućavaju procenu korozionih naslaga i generisanje C-scan prikaza.
Podloga za održavanje konstantnog odmaka sonde
Polukruta podloga za korozione naslage održava konstantno odstojanje sonde od površine tokom akvizicije podataka.
Procena stanja u eksploataciji
Procena preostalog ligamenta ne zahteva pripremu površine i može se obaviti dok je oprema u radu.
Ispitivanje bez zračenja
Tehnika obezbeđuje 100% pokrivenost bez upotrebe zračenja.
Objavljene tehničke specifikacije
Vrednosti prema podacima koje je objavio Eddyfi Technologies. Kada se modeli ili varijante razlikuju, svaki je naveden zasebno.
OPŠTE
- Kućište
- Mala
- Broj kanala
- 6 (3 × dvostruki senzori za koje je podneta patentna prijava)
- Potpuna pokrivenost
- 75 mm (3 in)
- Debljina zida
- 3–19 mm (0.12–0.75 in)
- Debljina izolacije/premaza (odmak sonde)
- 0–50 mm (0–2 in)
- Debljina zaštitne obloge
- Nije podržano
- Opseg spoljašnjih prečnika
- 152 mm (6-in) do ravnih površina
- Enkoder
- 16.04 impulsa/mm (407.44 impulsa/in)
- Kabl
- 5 m (16.4 ft)
Performanse ispitivanja
- Tipično vreme ispitivanja korozionih naslaga dinamičkim skeniranjem sa enkoderom
- manje od jednog minuta
- Obuhvaćene tehnike
- 100%
- Polukruti podmetač za skeniranje preko korozionih naslaga
- Podržana debljina zida: 3–19 mm (0.12–0.75 in).
- Podržana debljina izolacije/premaza (odmak sonde): 0–50 mm (0–2 in).
- Ispitivanje kroz zaštitne obloge nije podržano.
- Opseg spoljašnjih prečnika: od 152 mm (6-in) do ravnih površina.
- Detekcija grešaka zahteva rad u odgovarajućem opsegu debljine zida i odstojanja sonde od površine.
- Tvrdnja o ispitivanju za manje od jednog minuta odnosi se na tipične korozione naslage uz dinamičko skeniranje sa enkoderom.
Tipične primene
- Procena preostale debljine zida kroz korozione naslage
- Ispitivanje korozionih ispupčenja
- Procena preostale debljine materijala ispod greške tokom eksploatacije
Video snimci proizvoda
Zvanične brošure
Dodatni dokumenti
PECA HR tehničke specifikacije
PECA HR tehničke specifikacijeLyft tehničke specifikacije
Lyft tehničke specifikacijeOstali Eddyfi proizvodi
Alternative drugih proizvođača
Uporedivi sistemi koje takođe zastupamo. Ako vaša primena zahteva drugačiji balans brzine, rezolucije ili dimenzija, vredi ih pregledati.
Instrumenti za ispitivanje strukture i tvrdoće
ibg porodica digitalnih instrumenata za vrtložne struje za 100% komparativnu verifikaciju termičke obrade, tvrdoće, dubine kaljenja i mešanja materijala na masovno proizvedenim čeličnim delovima.
Uporediteibg NDT tehnologijaeddyQlab Ai
Laboratorijski sistem koji koristi podatke vrtložnih struja i prethodno obučen AI model za predviđanje dubine kaljenja i površinske tvrdoće indukciono kaljenih delova kao što su homokinetički zglobovi.
Uporediteibg NDT tehnologijaeddyQlab Ai VL
Poluautomatski laboratorijski sistem sa jednim dugmetom za CV zglobove koji predviđa površinsku tvrdoću i dubinu očvršćavanja bez razaranja koristeći AI i mašinsko učenje.
Uporediteibg NDT tehnologijaeddyguard neo S
Kontroler vrtložnih struja sledeće generacije za ispitivanje mikrostrukture, napravljen za laku integraciju u mašinu, Industrial Ethernet povezivanje i kontrolu više uređaja.
UporediteKako EMUS ovo podržava
Oprema je samo deo odgovora. Svaki sistem koji isporučujemo podržan je regionalnim inženjeringom, servisom i aplikativnom podrškom.
Mehaničko, električno, ekološko podešavanje urađeno ispravno prvi put.
Kvalifikacija i testiranje prihvatanja prema realnim kriterijumima.
Obuka za operatere i primenu, prilagođena vašim delovima.
Sledljivo etaloniranje za spremnost merenja za reviziju.
Preventivni i korektivni servis širom regiona Balkana.
Razvoj metoda i rešavanje problema sa našim inženjerima.
Eddyfi Technologies
Deo portfolija Eddyfi Technologies koji EMUS zastupa u regionu Balkana.
Napomene o primeni i resursi
Zvanične napomene o primeni i tehnička literatura za sondu visoke rezolucije sa nizom elemenata za ispitivanje impulsnim vrtložnim strujama (PECA).
Zatražite inženjersku konsultaciju
Razgovarajte sa EMUS inženjerom o ovom proizvodu i da li odgovara vašem procesu ispitivanja.
