FF35 CT
Laboratorijski mikro-CT s jednocijevnom ili dvocijevnom postavom (225 kV mikro-fokus plus 160 kV ili 190 kV nano-fokus) za male i srednje dijelove, dostupan kao FF35 CT Metrology i FF35 CT SEMI.
O FF35 CT
FF35 CT je Comet Yxlonov svestrani laboratorijski CT sustav za male do srednje velike dijelove. Može se konfigurirati s jednom ili dvije rendgenske cijevi: 225 kV mikro-fokusna cijev s usmjerenim snopom za brže skeniranje većih ili gušćih dijelova, u kombinaciji s nano-fokusnom cijevi — bilo 190 kV transmisijskom cijevi ili novijom, niskoodrživom 160 kV nano-fokusnom cijevi — za submikronske detalje. Obje cijevi imaju vlastiti generator i visokonaponski kabel, tako da sustav prebacuje između njih pritiskom na gumb unutar jedne inspekcijske sekvence.
Comet Yxlon navodi maksimalnu snagu od 320 W i 2D prostornu rezoluciju od 4 µm za 225 kV cijev s usmjerenim snopom, te vidljivost detalja od 600 nm za 160 kV nano-fokusnu cijev. Ove brojke odnose se na odgovarajuću cijev; maksimalna snaga nije dostupna na najmanjoj žarišnoj točki. Opcionalna meta visoke gustoće snage (HDP) za 225 kV cijev otprilike udvostručuje gustoću snage, što omogućuje manju žarišnu točku pri zadanoj snazi.
Dokumentirane su tri izvedbe: standardni FF35 CT, FF35 CT Metrology sa specificiranim MPE_SD = 5.9 µm + L/75 (L u mm) za dimenzijsko mjerenje te FF35 CT SEMI, za koji Comet Yxlon navodi da je certificiran prema SEMI® S2-0818 i S8-0218 za okruženja u industriji poluvodiča. Manipulator na granitnoj podlozi s klimatizacijom osigurava stabilnost; maksimalna masa uzorka sada iznosi do 50 kg (dostupno i kao nadogradnja).
Verzije i konfiguracije
FF35 CT
Standardni laboratorijski CT, jednostruka ili dvostruka cijev.
Metrologija FF35 CT
Izvedba za CT metrologiju s MPE_SD = 5.9 µm + L/75 [L u mm].
FF35 CT SEMI
Verzija za industrije povezane s poluvodičima, certificirana prema SEMI® S2-0818 i S8-0218.
- Jednostruka ili dvostruka cijev225 kV mikro-fokus cijev s usmjerenim snopom plus 160 kV ili 190 kV nano-fokus cijev; prebacivanje u nekoliko sekundi.
- Nano-fokusna cijev od 160 kVCijev niskog održavanja za duga skeniranja i kontinuirani rad; vidljivost detalja 600 nm (podatak proizvođača).
- Meta visoke gustoće snage (HDP)Opcionalno za cijev od 225 kV; otprilike 2× veća gustoća snage za manje žarišne točke pri istoj snazi.
- Verzija MetrologyMetrologija FF35 CT s MPE_SD = 5.9 µm + L/75 [L u mm].
- SEMI verzijaFF35 CT SEMI razvijen za poluvodičke primjene i certificiran prema SEMI® S2-0818 & S8-0218.
- Manipulacija granitaGranitna baza, aktivno zračno prigušenje, 6 do 8 osi, širok FDD raspon; klimatizirani ormar.
- Uzorci do 50 kgPovećana maksimalna težina uzorka, također dostupno kao nadogradnja.
Tehnički podaci
- Maks. promjer uzorka
- 530 mm
- Maks. visina uzorka
- 800 mm
- Maks. težina uzorka
- 50 kg
- Dimenzije sustava (Š × D × V)
- 2960 × 1590 × 2120 mm
- Konfiguracija
- Jednostruka ili dvostruka cijev
- Mikrofokusna cijev
- 225 kV cijev s usmjerenim snopom, 320 W maks., vodeno hlađena meta; opcionalna HDP meta
- Nano-fokusna cijev
- Nano-fokusna cijev od 160 kV ili nano-fokusna transmisiona cijev od 190 kV
- Navedena 2D rezolucija / vidljivost detalja
- Prostorna rezolucija 4 µm (225 kV cijev, 2D); vidljivost detalja 600 nm (160 kV nanofokusna cijev)
- CT načini rada
- CT stožastog snopa, QuickScan, QualityScan, HeliExtend, FlexCenter, ZoomScan, LayerScan, ScanExtend (proširenja vidnog polja), izrezivanje volumena
- Manipulacija
- Granitna baza, aktivno zračno prigušenje, 6 do 8 osi, širok FDD raspon
- Metrologija FF35 CT
- MPE_SD = 5.9 µm + L/75 [L u mm]
- FF35 CT SEMI
- Certificirano prema SEMI® S2-0818 i S8-0218 (izjava proizvođača)
Podaci iz službenih Comet Yxlon informacija o proizvodu (yxlon.comet.tech). Maksimalne vrijednosti ovise o konfiguraciji; veličina voksela, detektabilnost detalja i MPE su različite veličine. Konačna konfiguracija se potvrđuje u EMUS ponudi.
Opcije i paketi
- Druga (nano-fokusna) cijev
- HDP meta za cijev od 225 kV
- Verzija Metrology
- SEMI verzija
- Nadogradnja uzorka na 50 kg
- Vista / Vista X / Vista X Pro softverski paketi
- Paket Uvidi u baterije
- Dragonfly 3D World
Gdje se FF35 CT koristi se
- Elektroničke komponente, SMD i poluvodički paketi
- Pločice i čipovi
- MEMS / MOEMS
- Aditivno proizvedeni dijelovi i plastika ojačana vlaknima
- Baterijske ćelije i moduli
- Plastika oblikovana injekcijskim prešanjem i odljevi od lakih legura
- Medicinski objekti (npr. kanile)
- Geološki, paleontološki i biološki uzorci
- Analiza grešaka i strukture, provjere montaže, kontrola procesa
- Digitalizacija i segmentacija
Često postavljana pitanja
Može li se FF35 CT koristiti za dimenzionalno mjerenje?
Da, u FF35 CT Metrology verziji, za koju Comet Yxlon navodi MPE_SD = 5.9 µm + L/75 (L u mm). Standardna verzija namijenjena je inspekciji i analizi, a ne sljedivoj metrologiji.
Koju cijev bih trebao odabrati?
Rendgenska cijev od 225 kV s mikro-fokusom pokriva veće i gušće dijelove te omogućuje brže skeniranje; cijev s nano-fokusom dodaje submikronske detalje za vrlo male dijelove. Mnogi laboratoriji odabiru postavku s dvije cijevi. EMUS preporučuje definiranje ovoga putem uzoraka skeniranja.
Slike proizvoda
Povezani Comet Yxlon proizvodi
Kako EMUS to podržava
Oprema je samo dio odgovora. Svaki sustav koji isporučujemo podržan je regionalnom inženjerskom, servisnom i aplikativnom podrškom.
Mehanička, električna, ekološka postavka odrađena ispravno prvi put.
Kvalifikacijsko i prijemno ispitivanje prema stvarnim kriterijima.
Edukacija operatera i aplikacije prilagođena vašim dijelovima.
Sljedivo umjeravanje za pripremljenost mjerenja za reviziju.
Preventivni i korektivni servis diljem regije Balkana.
Razvoj metoda i rješavanje problema s našim inženjerima.
Comet Yxlon
TheFF35 CT dio je portfelja Comet Yxlon, predstavljen od strane EMUS-a za kupce u regiji Balkana.
Zatražite tehničke konzultacije
Razgovarajte s EMUS inženjerom oFF35 CT, vaše dijelove i tolerancije te konfiguraciju koja odgovara vašem tijeku rada inspekcije.